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2015光学仪器与技术国际会议通知

2014-12-25 最新消息

　　2015光学仪器与技术国际会议(OIT2015)将于2015年05月17-19日在北京国际会议中心举办，突出以光电仪器与技术为核心，重点是光学系统与光电仪器、光通信、光电器件、激光、光电成像、检测与计量技术、微纳及太赫兹技术等为主体的专业会议。届时会有超过400位中外学者、工程技术人员参会。

　　会议由中国仪器仪表学会(CIS)和SPIE共同主办，双方均为国内外有很强影响力的学术团体。CIS是中国仪器仪表、测量控制和自动化领域及相关技术的权威学术团体，它所创办的多国仪器仪表学术会议和展览(MICONEX)在国内外有很大的影响;OIT系列会议是仪器仪表学会中比较有影响力的国际学术会议，在所属学术领域有较好的评价。

　　本次会议设光电系统与现代光电仪器、光通信与光信号处理、光电传感与应用、先进激光器及其应用、光电成像与图像处理技术、光电测量技术与系统、微纳光子学及其制备工艺、THz技术与应用等八大研讨主题，现开始征集稿件。

　　征文要求： 1. 会议接收未在国内外学术刊物上公开发表过的原创性论文。 2. 摘要及全文均通过会议网站进行提交，不接受邮箱及信件投稿。3. 摘要及全文均要求用英文。

　　论文集：所有录用的论文由SPIE集结成卷出版，并由EI全文检索。

　　优秀学生论文评选：会议将在会议论文中选出5%优秀学生论文，颁发优秀论文证书及奖金，以资鼓励。

　　摘要提交方式：

　　1. 登录OIT2015网站。 2. 进入Call for paper，点击所选专题，点击Submit Abstract，接入SPIE投稿网站。3. 输入您的SPIE账号(如果没有账号，请创建一个新账号)与密码，按提示一步步操作即可完成摘要提交。4. 摘要没有格式方面的要求，摘要不要太长也不要太简单，一般控制在500英文字以内。

　　此外，为更好地为与会学者及相关技术从业者服务，为国内外的广大科技工作者和专家提供一个交流的平台，本次会议特附设企业展示会，欢迎企业前来宣传、展示新技术、新产品。

　　布展时间：2015年5月17日。

　　展览时间：2015年5月18-19日。

　　会议对参加展示的企业提供会议网站链接。

　　本次展览将设在会议中心三层大厅，共设20个展位，展区与学术报告厅同属一层，方便与会者与参展企业的沟通，见附平面图。

　　一、展位收费标准